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產(chǎn)品中心

關(guān)于百特

丹東百特儀器有限公司是中國知名的粒度儀器制造商和粒度測試技術(shù)研發(fā)基地,是國家高新技術(shù)企業(yè)、國家專精特新“小巨人”企業(yè)、遼寧省軟件企業(yè)、遼寧省守合同重信譽企業(yè)、中國顆粒學(xué)會常務(wù)理事單位和測試專業(yè)委員會副主任單位。


主要產(chǎn)品有激光粒度分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、顯微圖像粒度粒形分析儀、粉體特性測試儀和環(huán)境空氣監(jiān)測儀等5個系列共34個品種,擁有100多項專利和軟件著作權(quán)等知識產(chǎn)權(quán)。產(chǎn)品不僅銷往全國34個省市區(qū),還出口到德國、韓國、美國、俄羅斯、巴西、日本等九十多個國家和地區(qū),在制藥、電池材料、化工、磨料、涂料、建材、非金屬材料和金屬粉的生產(chǎn)、應(yīng)用和研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,產(chǎn)品的技術(shù)性能和質(zhì)量居國際先進(jìn)水平。


1995
公司成立于
10000m2 +
建筑面積
200 +
在職員工人數(shù)
100 +
公司專利
20000 +
百特用戶

公司新聞

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應(yīng)用研究

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  • 78 通過Zeta電位測試辨別不同帶電組分混合體系

    關(guān)鍵詞:不同組分體系辨別、Zeta電位分布BeNano系列納米粒度及Zeta電位分析儀在Zeta電位測試過程中可以得到樣品的帶電符號(±)、平均Zeta電位值以及樣品的Zeta電位分布信息。其中,Ze...

  • 77 粒度對粉體空隙率的影響

    粉體空隙是指粉體中顆粒與顆粒之間的空隙以及顆粒內(nèi)的空隙??障堵适侵敢欢糠垠w的總空隙占粉體堆積體積的比例??障堵史从撤垠w的堆積性能,直接影響粉體的包裝、貯存、輸送、應(yīng)用等方面。本文通過測量粒度、真密度...

  • 76 pH環(huán)境對于不同純度氧化鋁顆粒Zeta電位的影響

    關(guān)鍵詞:氧化鋁、純度、Zeta電位氧化鋁是一種常見的無機(jī)氧化物,其廣泛應(yīng)用于陶瓷、醫(yī)藥、電子、機(jī)械等行業(yè)。氧化鋁的純度不同,應(yīng)用的領(lǐng)域也有所差異,例如:99氧化鋁瓷材料用于制作高溫坩堝、耐火爐管及特殊...

獨特技術(shù)

  • 激光/圖像二合一技術(shù)

    激光/圖像二合一技術(shù)

    激光粒度儀是利用顆粒能使激光發(fā)生散射的現(xiàn)象來測量粒度分布的。它具有測試范圍寬、測試速度快、重復(fù)性好、操作簡便等優(yōu)點,是目前應(yīng)用最廣泛的一種粒度測試儀器。圖像粒度儀是利用顯微鏡將微小的顆粒放大,再用照相機(jī)拍成照片并通過專用軟件對每個顆粒圖像進(jìn)行分析來測量粒度和粒形的。它具有可視化、得到單個顆粒尺寸、能測量最大顆粒等優(yōu)點。丹東百特在國內(nèi)外率先將上述兩大系統(tǒng)融合在一起,并研制成功了Bettersize3000plus 激光/圖像二合一粒度粒形分析系統(tǒng),實現(xiàn)激光/圖像同步分析,相互驗證… 

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  • 正反傅里葉結(jié)合光學(xué)系統(tǒng)(百特專利技術(shù))

    正反傅里葉結(jié)合光學(xué)系統(tǒng)(百特專利技術(shù))

    激光粒度儀的光學(xué)系統(tǒng)有兩種:傅里葉光學(xué)系統(tǒng)和反傅里葉光學(xué)系統(tǒng)。單一的傅里葉光學(xué)系統(tǒng)和單一的反傅里葉光學(xué)系統(tǒng)都有不足。為了克服這些不足,儀器專家在這兩種光學(xué)系統(tǒng)的基礎(chǔ)上先后研制出了雙光束系統(tǒng)和雙鏡頭系統(tǒng)等,但新系統(tǒng)成本有很大提高。百特在國內(nèi)外率先研制成功了正反傅里葉結(jié)合光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)了優(yōu)勢互補和降低成本。它的前向和側(cè)向的散射光是由反傅里葉光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生、接收和處理的,后向散射光信號是由傅里葉光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生、接收和處理的,用單光束和單鏡頭實現(xiàn)了散射光的全角度接收。這種技術(shù)不僅達(dá)到了進(jìn)口儀器多光束技術(shù)的效果,還避免了多光束系...

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  • 納米粒度及電位分析儀相關(guān)技術(shù)

    納米粒度及電位分析儀相關(guān)技術(shù)

    動態(tài)光散射技術(shù)DLS,又稱作光子相關(guān)光譜PCS或者準(zhǔn)彈性光散射。該技術(shù)檢測由于顆粒布朗運動而產(chǎn)生的散射光的波動隨時間的變化。其中小顆粒造成的散射光信號波動較快,大顆粒造成的散射光信號波動較慢。APD檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電信號,再通過數(shù)字相關(guān)器的運算處理,得到顆粒在溶液中擴(kuò)散的速度信息,即擴(kuò)散系數(shù)D。通過Stockes-Einstein方程可以得到顆粒、大分子的尺寸,即流體力學(xué)直徑DH及其分布。

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X 百特粒度儀以舊換新
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